Estudio de la dependencia de la resistencia con la temperatura en películas delgadas de Ag-Sb-Te?

ROCCA, J.; ACOSTA, N.; FONTANA, M.; MARIA ANDREA UREÑA

Santa Fe

Congreso; 104º Reunión de la Asociación Física Argentina; 2019

Los vidrios calcogenuros se encuentran entre los materiales promisorios para la fabricaci´on de memorias novol´atiles. Estos materiales presentan el fen´omeno de realizar un cambio de fase inducido por un pulso el´ectricoy pasar de una estructura amorfa a una cristalina disminuyendo en varios ´ordenes de magnitud su resistenciael´ectrica (phase change materials, PCM). Este proceso puede revertirse volviendo al estado amorfo y permitiendoas´ı el ciclado de la memoria.En trabajos previos hemos comprobado que pel´ıculas delgadas de Sb70T e30 presentan el fen´omeno de cambiode fase. De acuerdo a la bibliograf´ıa [1,2] el agregado de metales mejora la performance de las memorias. En estetrabajo hemos introducido plata en el sistema Sb70T e30. Se fabricaron pel´ıculas delgadas de Agx(Sb0,7T e0,3)100−xmediante la t´ecnica de ablaci´on l´aser a partir de blancos de la misma composici´on obtenidos en el laboratorio. Tantolos blancos como las pel´ıculas reci´en depositadas fueron caracterizadas por difracci´on de rayos X. Se estudi´o lavariaci´on de la resistencia de las pel´ıculas con la temperatura para observar si es posible inducir la cristalizaci´on delas mismas y evaluar si el cociente Ramorfo/Rcristalino es ´optimo para su aplicaci´on a memorias del tipo PCM.