INCAPE   05401
INSTITUTO DE INVESTIGACIONES EN CATALISIS Y PETROQUIMICA "ING. JOSE MIGUEL PARERA"
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
INCREMENTO EN LA FUNCIÓN TRABAJO DE CABEZALES DE GRABACIÓN MAGNÉTICA MEDIANTE FLUORACIÓN CON XeF2
Autor/es:
ANA M. TARDITI, PETER KONDRATYUK, ANDREW J. GELLMAN
Lugar:
Universidad Nacional de Salta
Reunión:
Congreso; XVI Congreso Argentino de FIsicoquímica y Química Inorgánica; 2009
Resumen:
Un problema importante que ocurre durante la operación de cabezales de grabaciónmagnética, es la carga de los mismos como consecuencia de la transferencia deelectrones desde el cabezal hacia la superficie subyacente del disco. La función trabajo(F) de los cabezales actúa como una barrera a la transferencia de electrones, impactandodirectamente en la carga de los mismos. El objetivo del presente trabajo es incrementar lafunción trabajo de películas de carbono tipo diamante (DLC), simulando la superficie delos cabezales, mediante la utilización de técnicas superficiales sencillas, a los efectos depoder ser aplicadas industrialmente. Como un método para incrementar la funcionartrabajo, se propone la adsorción de flúor, utilizando como reactivo XeF2 en condiciones deultra-alto vacío. Mediante la utilización de espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta(UPS) y de rayos X (XPS) se estudió la modificación en la función trabajo y la composiciónsuperficial de películas de carbono simulando la superficie de cabezales de grabación magnética. El tratamiento con XeF2 resulta en un incremento en la función trabajo de 1.55 eV, cuando el tratamiento se realiza a temperatura ambiente y 8000L de exposición. Aproximadamente la mitad del incremento se produce mientras la concentración de flúor es inferior a 0.02 ML, sugiriendo que el dopaje inicial de XeF2 remueve especies adsorbidas en la superficie de la película, las cuales reaccionan con XeF2 y desorben. Exposiciones mayores conducen a la formación de enlaces covalentes, que satura a cubrimientos de aproximadamente 0.3 ML. La estabilidad térmica de las muestras fluoradas demostró que un calentamiento a 850 K es necesario para reducir la concentración de flúor a niveles no detectables por XPS. Sin embargo, el valor de la función trabajo no vuelve a su valor inicial luego del calentamiento.