PERSONAL DE APOYO
CAROT Maria Lucrecia
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Análisis de muestras por escaneo de superficies con técnicas SPM
Autor/es:
CAROT, M. LUCRECIA; LINAREZ PEREZ, OMAR E.; COMETTO, FERNANDO P.
Fecha inicio:
2022-01-01
Fecha finalización:
2022-12-01
Campo de Aplicación:
Prom.Gral.del Conoc.-Cs.Exactas y Naturales
Descripción:
Consiste en el análisis de muestras por escaneo de superficies (Scanning Probe Microscopy). Por AFM (Atomic Force Microscopy) se escanea la superficie en modo contacto y/o intermitente. Estas muestras pueden ser secas, en solución y muestras biológicas debidamente preparadas. Por STM (Scanning Tunneling Microscopy) se utilizan superficies conductoras secas o muestras en la interfaz sólido/líquido. Destinatarios: Industria metalúrgica, farmacéutica, de materiales poliméricos y Lab. de Investigación de C&T.
