Estudio por microscopía de fuerza atómica de películas delgadas SnO2 y TiO2

P. C. DOS SANTOS CLARO; F. GOLMAR; A. M. MUDARRA NAVARRO; P. SCHILARDI; C. E. RODRÍGUEZ TORRES; R. SALVAREZZA; F. H. SÁNCHEZ

Huerta Grande, Córdoba

Congreso; Sólidos 07; 2007

Los semiconductores magnéticos diluidos (DMS, por sus siglas en inglés) combinan dos propiedades: semiconducción y magnetismo. Estas propiedades los hacen potencialmente interesantes para aplicaciones prácticas en el campo de la espintrónica. Entre los óxidos DMS más estudiados que presentan ferromagnetismo a temperatura ambiente, están los basados en TiO2, SnO2 y ZnO dopados con impurezas magnéticas y no magnéticas. También se han reportado resultados muy interesantes de ferromagnetismo en estos óxidos puros. Hay abundante evidencia de que el magnetismo está relacionado con una o más de las causas siguientes: una deficiente cristalinidad de las películas, la presencia de defectos puntuales y lineales, y efectos de superficie o interfases (película/substrato) aún no completamente identificados. En este trabajo, se presenta un estudio sobre la microstructura superficial de películas de SnO2 y TiO2 mediante la técnica de microscopía de fuerza atómica. Las películas estudiadas fueron depositadas sobre LaAlO3 por ablación láser. Todas presentan magnetismo a temperatura ambiente. Las muestras también han sido caracterizadas por difracción de rayos X y técnicas magnetométricas.