Estudio EXAFS de películas delgadas de TiO2 dopadas con metales de transición

A. M. MUDARRA NAVARRO; C. E. RODRÍGUEZ TORRES; F. H. SÁNCHEZ; A. F. CABRERA; L. A. ERRICO; M. RENTERÍA; F. GOLMAR

Salta

Congreso; 92º Reunión Nacional de Física; 2007

Asociación de Física Argentina (AFA)

Los semiconductores magnéticos diluidos (DMS) son materiales de gran interés porque combinan las características de semiconductividad y magnetismo. Desde el descubrimiento de magnetismo a temperatura ambiente en películas delgadas de anatase TiO2 dopadas con Co, muchos grupos de investigación se han centrado en el dopaje de TiO2 con metales de transición (MT). Estos resultados han motivado intensivos estudios experimentales y teóricos en las características estructurales y electrónicas de estos materiales. Para poder entender el rol de las impurezas en el magnetismo presente en materiales DMSs es crucial estudiar el entorno de las mismas. Es por ello que este trabajo presentamos una caracterización EXAFS (Estructura Fina de Absorción de Rayos-X Extendida) de películas delgadas de anatasa TiO2 dopadas con MT (Co, Ni, o Zn). Las películas fueron depositadas sobre LaAlO3(001) por Ablación Láser (Pulsed Laser Deposition-PLD) usando un láser Nd:YAG. Todas las películas resultaron transparentes, fuertemente texturadas (mostrando solamente reflexiones (001) de la estructura anatasa) y ferromagnéticas a temperatura ambiente. El estado de la oxidación es +2 y la coordinación local es similar al MTO (CoO, NiO, o ZnO) pero, la similaridad con estos óxidos solamente existe en un rango corto.