Evidencias de microscopía de fuerza magnética y de resonancia ferromagnética de la formación de dominios perpendiculares en tiras en films de Ni80Fe20

RAMOS C. A.; GOMEZ J; BUTERA A.; VASSALLO BRIGNETI E.; MONTEBLANCO E.; GUIMARAES F; JAIS J. P.; GHENZI N. F.

Salta

Congreso; 92a. Reunión Nacional de Fisica de la Asociación Física Argentina; 2007

Asociación Física Argentina

En este trabajo presentamos resultados en films deNi80Fe20 crecidos por pulverización catódica (“sputtering”)de espesores 50, 100, 250 nm sobre substratos de vidrio. Los films fueron crecidos a temperatura ambiente con una capa inferior de aproximadamente 10nm de SiO2 y otra superior del mismo espesor para obtener condicionesde borde simétricas. Las mediciones con el microscopio de fuerza magnética evidencian un patrón de dominios de“tiras” (con magnetización perpendicular al film) sólo en el film de mayor espesor, t = 250 nm. El espaciamiento resulta muy regular, con período similar al espesor del mismo.Este resultado se correlaciona con la observación de lineas “satélites” en resonancia ferromagnética (con campoaplicado en la dirección del film). La separación entre estas líneas es mayor en el film de 100 nm que en el de250nm. De acuerdo con otros autores (J. Ben Youssef and N. Vukadinovic, Phys. Rev. B 69, 174402 (2004) y A. Hubertand R. Schafer, Magnetic Domains Springer, Heidelberg(1998)) este resultado puede deberse a la formaciónde dominios sub-micrónicos favorecidos por una anisotropía uniaxial perpendicular al film y que necesita un umbral de espesor de aproximadamente100 nm, para su formación.