Caracterización del silicio poroso hidrogenado parcialmente con deuterio

ARCE, R.D.; PALACIOS, W.; BUSSO, A.; KOROPECKI, R.R:

Mar del Plata

Congreso; SAM/CONAMET 2005; 2005

Sociedad Argentina de Materiales

Se presentan resultados de espectroscopia IR en muestras de silicio poroso nanoestructurado preparadas utilizando técnicas de anodizado electroquímico sobre obleas cristalinas de silicio dopado tipo p. El anodizado se realizó utilizando como solución una mezcla de HF:CH3CH2OH:H2O , en proporción 1:1:1. El HF utilizado está diluido en agua al 50 %, mientras que el alcohol etílico es absoluto. Con el fin de estudiar la forma en que el hidrógeno se une a las paredes de los poros en el silicio poroso, en algunas muestras se reemplazó el agua por óxido de deuterio(D2O). Esto permite que parte del hidrógeno sea reemplazado por deuterio. Este reemplazo produce un corrimiento isotópico de los picos de IR correspondientes a este material. De este modo es posible identificar los diferentes modos de oscilación para los enlaces si Si-H. Los corrimientos observados entre los picos de las muestras que contienen deuterio y las que no lo contienen, son corroborados a partir de modelos simples que contemplan la substitución isotópica en los osciladores.