PROIMI 05436
PLANTA PILOTO DE PROCESOS INDUSTRIALES MICROBIOLOGICOS
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Defectos óseos críticos. Aplicación de técnica rayos x blandos en placas sensibles
Autor/es:
JAMMAL, M. V.; ABATE, C. M.; MISSANA, L.
Lugar:
Rosario, Argentina
Reunión:
Congreso; XIL Reunión de la Sociedad Argentina de Investigación Odontológica; 2008
Institución organizadora:
Sociedad Argentina de Investigación Odontológica
