INVESTIGADORES
LOPEZ Carlos Alberto
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Análisis de patrones de difracción de muestras policristalinas mediante el método Rietveld. (ST 4943)
Autor/es:
C.A. LOPEZ; J.A. GONZÁLEZ
Fecha inicio:
2020-02-01
Fecha finalización:
2025-03-01
Campo de Aplicación:
Prom.Gral.del Conoc.-Cs.Exactas y Naturales
Descripción:
Mediante el análisis Rietveld de patrones de difracción se ofrece brindar informaciónsobre: características cristalográficas, microestructurales (tamaño microdeformidadde cristalita), composición porcentual de fases. (ST 4943).
