INVESTIGADORES
LOPEZ Carlos Alberto
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Análisis de patrones de difracción de muestras policristalinas mediante el método Rietveld
Autor/es:
CARLOS A. LOPEZ; JUAN M. QUIROGA
Fecha inicio:
2023-11-01
Fecha finalización:
2023-12-01
Campo de Aplicación:
Minerales no metalicos-Materiales p/constru
Descripción:
STAN (ST 4943) Acondicionamiento de la muestra en el portamuestra del equipo. Obtención de difractograma de la muestra. Análisis Cuantitativo de sólidos cristalinos mediante refinamiento Rietveld de datos de Difracción de rayos X.
