PERSONAL DE APOYO
FELAJ paula Graciela
congresos y reuniones científicas
Título:
Autoionización de excitones inducida por impacto iónico en sistemas de baja dimensionalidad
Autor/es:
PAULA FELAJ; NOELIA BAJALESLUNA; JULIO FERRON
Lugar:
Malargue
Reunión:
Congreso; Reunion Anual de Fisica; 2010
Institución organizadora:
Asociación Física Argentina
Resumen:
Uno de los efectos observables a partir de la interacción de iones energéticos con superficies es la emisión de electrones secundarios (SEE). La emisión de estos electrones se puede producir a partir de la energía potencial (energía de ionización) o cinética del proyectil. La intensidad y la distribución de estos electrones dependen de las características particulares proyectil/superficie y de las interacciones a las que den lugar. Así, las perturbaciones fuertemente localizadas pueden dar lugar a una cascada de procesos de relajación en la superficie del blanco (pares electrón-hueco; excitones, plasmones, desexcitación Auger, etc.). En consecuencia, es posible mediante la SEE monitorear las excitaciones electrónicas inducidas en la colisión. En un trabajo reciente (Bajales et.al. PRL 100, 227604-2008), propusimos como mecanismo de generación de electrones secundarios de alta energía en HOPG (grafito pirolítico altamente orientado) la desexcitación Auger de excitones. Esta idea se basa en que la supervivencia del excitón en HOPG, el tiempo necesario para el decaimiento Auger, es aumentada por la baja conductividad del grafito en dirección normal a la superficie. En este trabajo estudiamos la factibilidad de utilizar este mecanismo para monitorear esta localización en sistemas de baja dimensionalidad. Así, mostramos resultados de la distribución en energía de la emisión inducida por iones de He+ a 5keV en 3 sistemas diferentes, a saber: hojas de grafeno, nanotubos y un conjunto de capas de grafeno levantadas (flecos), generadas aleatoriamente. Todos estos sistemas están soportados en grafito pirolítico altamente orientado (HOPG). Proponemos que el estudio de los cambios en la intensidad relativa de los picos del excitón para los tres sistemas de baja dimensionalidad, puede dar lugar a un método que permita identificar cambios en la escala nanométrica
