MÉTODO DE RECONSTRUCCIÓN DE LA DISTRIBUCIÓN DE ÍNDICE DE REFRACCIÓN DE UNA GUÍA ÓPTICA

BIASETTI, DEMIAN; TEJERINA, MATÍAS

La Plata

Taller; Taller de Óptica y Fotofísica; 2012

Centro de Investigaciones Ópticas (CIOp)

La fotónica integrada tiene una amplia penetración en distintos campos de aplicación de la ciencia y la tecnología, como materiales, comunicaciones, biología, etc. La tecnología aeroespacial no es ajena a ello, ya que desde la fotónica integrada se han diseñado distintos tipos de sensores e instrumentos que tienen una probada aplicación en este campo. Esta rama se refiere al proceso de integración de componentes pasivos y activos en un mismo conjunto (chip) con tecnología planar, en donde los circuitos ópticos empleados son, fundamentalmente, guías de onda. Así, el estudio y caracterización de guías ópticas, es crucial para el desarrollo de estos sensores integrados. Uno de los tópicos más importantes en tecnología de guías de onda consiste en la reconstrucción del perfil de índice de refracción, habiéndose desarrollados varios métodos con esta meta.En nuestro caso, se escribió un sencillo software de cálculo numérico que ajusta los parámetros de un perfil semi-gausiano de guías de onda planas, a partir de la distribución de intensidad de la imagen modal del campo cercano adquirido con un sistema óptico y una CCD. En contraste con la técnica de IWKB no se requiere la determinación experimental del índice efectivo. Se constituye como una alternativa de esquema de cálculo numérico para reconstruir el campo de índice de una guía plana .El desafío, en la reconstrucción a través de la medición de campo cercano, es minimizar el error introducido por el ruido en la distribución modal de intensidad así como por el métodocomputacional de cálculo numérico empleado.Es posible y de interés extender este tipo de reconstrucciones guías acanaladas, base de cualquier circuito óptico, en particular para aquellas fabricadas por escritura directa con pulsos láser de femtosegundos (PLFS). Más aún, podemos complementar con mediciones experimentales de micro espectroscopía Raman, para verificar y/o corregir el campo de índice de refracción reconstruido mediante el método presentado, evaluando su performance (carácter modal y pérdidas entre otros aspectos).