Caracterización morfológica y estructural de films delgados de hexaferrita de bario crecidos por Ablación láser

C. I. ZANDALAZINI; M. I. OLIVA; J. C. FERRERO

Córdoba

Congreso; XVII Congreso Argentino de Fisicoquímica y Química Inorgánica; 2011

Asociación Argentina de Investigación Fisicoquímica

Se estudiaron films de BaFe12O19 (BaM) depositadas sobre silicio mediante deposición por láser pulsado (PLD). Los depósitos se realizaron bajo diferentes presiones de oxígeno y posteriormente recibieron una serie de tratamientos térmicos a 900C en aire. Las caracterizaciones estructurales y morfológicas se realizaron mediante difracción de rayos X (XRD) y microscopía de barrido de electrones (SEM) respectivamente, y la composición química de las diferentes zonas de depósito se realizó mediante la técnica de espectroscopia de rayos X por dispersión en energía (EDX). El estudio estructural mostró que un recocido rápido es suficiente para cristalizar la fase BaM, y que para tiempos superiores a 180 min. las propiedades físicas del film se ven deterioradas. Además, se encontró una reducción del tamaño de ?cristalito? según la presión de crecimiento y un incremento de éste según el tiempo de recocido. Una marcada influencia del tiempo de recocido se observó en la topografía, mientras que el espesor de cada film no se vio afectado por la diferencia de presión de crecimiento