DETERMINACIÓN POR REFLECTOMETRÍA DE RAYOS X DEL ESPESOR DE RECUBRIMIENTOS DE TIO2 OBTENIDOS POR OXIDACIÓN ANÓDICA

M.L. VERA; A.E. ARES; M.R. ROSENBERGER; D.G. LAMAS; C.E. SCHVEZOV

Anales AFA

Asociación Física Argentina

Lugar: Tandil; Año: 2009 vol. 21 p. 174 - 178

0327-358X

El proceso electroquímico de oxidación anódica permite obtener recubrimientos de TiO2 de mayor espesor ydensidad que el que crece naturalmente sobre aleaciones de titanio, el cual frecuentemente no supera los 10nm deespesor y presenta numerosos poros y microfisuras. Por lo tanto, estos recubrimientos mejoran el desempeño delas aleaciones de titanio como biomaterial. En el presente trabajo se obtienen recubrimientos de TiO2 poroxidación anódica de la aleación Ti-6Al-4V a diferentes voltajes (10V a 70V), empleando una solución de ácidosulfúrico 1M como electrolito. Los espesores de las películas se determinan por reflectometría de rayos X,utilizando dos métodos de cálculo, uno a partir de la Ley de Snell y otro a partir de la Ley de Bragg modificada.La morfología de los óxidos se observa por microscopía óptica y electrónica de barrido y las fases presentes seanalizan por difracción de rayos X con incidencia rasante de 1º. Se evalúa la relación entre el voltaje y el espesorde los recubrimientos. Se obtienen diferentes colores de recubrimientos según el voltaje aplicado de acuerdo alespesor de los óxidos. Los valores de espesores calculados son entre 25 y 125 nm. El espesor aumenta alaumentar el voltaje aplicado. Hasta 50V los recubrimientos son compactos, homogéneos y amorfos, a 60Vcomienzan a aparecer poros y a 70V el recubrimientos es poroso y cristalino en fase anatasa.