INVESTIGADORES
OGGIER German Gustavo
congresos y reuniones científicas
Título:
Diagnóstico de fallas en semiconductores de potencia de Convertidores CC-CC con Puentes Duales Activos
Autor/es:
ANDRÉS M. AIRABELLA; GERMÁN G. OGGIER; LAUREANO E. PIRIS BOTALLA; GUILLERMO O. GARCÍA
Reunión:
Congreso; XIV Reunión de Trabajo en Procesamiento de la Información y Control (RPIC´2011); 2011
Resumen:
Se analiza el funcionamiento de un convertidor CC-CC con puentes duales activos cuando se producen determinadas fallas en los semiconductores de potencia. Las fallas consideradas en este trabajo son: transistores y diodos cortocircuitados y abiertos. Como resultado de este análisis pueden establecerse indicadores para discriminar el tipo de falla que se produce. Se propone una estrategia de diagnostico de bajo costo computacional midiendo determinadas tensiones y corrientes del convertidor. Por medio de resultados de simulación se veri ca el análisis para las diferentes fallas estudiadas.