INVESTIGADORES
OGGIER German Gustavo
artículos
Título:
Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semicondutores de convertidores CC-CC aislados
Autor/es:
ANDRÉS M. AIRABELLA; GERMÁN G. OGGIER; LAUREANO E. PIRIS-BOTALLA; CRISTIAN A. FALCO; GUILLERMO O. GARCÍA
Revista:
Ingeniería Eléctrica
Editorial:
Editores S.R.L.
Referencias:
Año: 2015 vol. 296 p. 96 - 104
ISSN:
1667-5169
Resumen:
En este trabajo se analiza la operación de un convertidor CCCC cuando uno de los semiconductores de potencia presenta una condición de falla de circuito abierto. Se propone una nueva estrategia de diagnóstico de falla, la cual consiste en medir la caída de tensión a bornes de cada uno de los semiconductores de potencia utilizando la información disponible en los circuitos de activación. La tensión medida se compara con un valor de referencia para determinar si un semiconductor presenta una condición de circuito abierto. Esta estrategia tiene la ventaja de que puede llevarse a cabo sin incluir sensores adicionales. Se incluyen resultados experimentales para validar la teoría.
