Propiedades dieléctricas de nanoestruturas de CuO producidas por molienda mecánica

LUIS D. JUNCIEL; S. OSORIO; A. AYALA; ECHEVERRÍA G.; A. BIANCHI ; G. PUNTE

Malargüe, Mendoza

Congreso; 95ta Reunión de la Asociación de Física Argentina; 2010

Asociación de Física Argentina

P 742 Propiedades dieléctricas de nanoestructuras de CuO producidas por molienda mecánica Junciel, L. D.1 , Osorio, S.2 , Ayala, A. P.3 , Echeverría G. A.4 , Bianchi, A.5 , Punte, G.6 1 IFLP (CCT-La Plata), Dpto. Física, FCE y Dpto. de Electrotecnia, Fac. de Ing., UNLP, La Plata 2 DF, FCE, UNLP, La Plata 3 Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, Brasil 4 LANADI-IFLP (CCT-La Plata), Dpto. Física, FCE y Fac. Ing., UNLP, La Plata 5 LANADI-IFLP (CCT-La Plata), Dpto. Física, FCE y Fac. Ing., UNLP, La Plata 6 LANADI-IFLP (CCT-La Plata), Dpto. Física, FCE y Fac. Ing., UNLP, La Plata Los materiales con respuesta dieléctrica gigante han cobrado gran interés en los últimos años por su potencial aplicación en microeletrónica. Varios autores han informado este tipo de comportamiento en monocristales, cerámicos y nanocristales de CuO, material de fácil disponibilidad. En este trabajo investigamos el comportamiento de nanoestructuras de CuO producidas por molienda mecánica controlada. Para su caracterización y determinación de sus propiedades físicas se realizaron medidas de difracción de rayos X, y de espectroscopía de impedancia (EI) a temperatura ambiente, en el rango de 1Hz a 1MHz. A partir del análisis, usando el método de Rietveld, de los patrones de difracción obtenidos se determinaron el tamaño y microtensión de los granos en las nanoestructuras. El análisis de los resultados de EI, realizado utilizando modelos eléctricos de circuitos equivalentes, indica cambios en las propiedades dieléctricas con el tiempo de molienda.