MICROSCOPÍA RAMAN CONFOCAL: TÉCNICAS DE DEPTH PROFILING NO INVASIVO

MIGUEL, MARÍA DE LA PAZ; TOMBA, J. PABLO

Rosario

Congreso; 11º Congreso Binacional de Metalurgia y Materiales SAM / CONAMET 2011; 2011

SAM-CONAMET-SOCHIM-Instituto de Física Rosario IFIR- CONICET-UNR, la Facultad de Cs Exactas, Ingeniería y Agrimensura de Rosario FCEIA-UNR Y la Universidad Tecnológica Nacional Regional San Nicolás FRSN-UTN.

Uno de los modos de exploración más empleado en microscopía Raman Confocal es el Depth Profiling (DP), el cual permite obtener información espectral del interior de una muestra transparente o semi-transparente, en función de la profundidad. Existen diferentes alternativas para efectuar un DP; una clasificación general comprende el uso de objetivos secos o de inmersión. Cuando se emplean objetivos secos, muy simples de utilizar, la respuesta instrumental aparece distorsionada por la refracción, lo cual disminuye la calidad de la medida. El empleo de objetivos de inmersión con un fluido de acople entre el objetivo y la superficie de la muestra minimiza la refracción, aunque presentan el inconveniente de que el fluido de acople podría dañar la muestra. Si se desea preservar el carácter no invasivo del DP (con objetivos secos) la utilización de modelos matemáticos que ayuden a interpretar los resultados resulta indispensable. Una de las formas de abordar el problema, se basa en el cálculo de la función de ensanchamiento del instrumento (PSF, point spread function) y en su utilización para la deconvolución de la señal obtenida, con el objetivo de obtener una señal mejorada y libre de distorsiones ópticas. El objetivo de este trabajo es analizar y comparar todas estas alternativas, efectuando medidas sobre un sistema constituido por substratos poliméricos multicapa.