Análisis de varistores de ZnO mediante STM y STS

M.S. CASTRO, M.P. SUÁREZ, Y C.M. ALDAO

BOLETíN DE LA SOCIEDAD ESPAñOLA DE CERáMICA Y VIDRIO

Año: 2002 vol. 41 p. 143 - 146

0366-3175

Varistores de ZnO fueron estudiados mediante el empleo de microscopía y espectroscopía de efecto túnel. Las curvas de corriente túnel vs. tensión indican que las muestras presentan una conducta rectificante. Dado que la conducción en la zona de pre-ruptura es controlada por la formación de barreras de Schottky en los bordes de grano debidas a la presencia de estadosintergranulares, las curvas de densidad de corriente vs. temperatura fueron ajustadas considerando la corriente túnel que atraviesa dichas barreras. La altura de las barreras de Schottky determinada con el modelo es comparada con las alturas obtenidas a través del análisis de barrido por espectroscopía túnel (STS) en la región del borde de grano.