Caracterización de microestructura en aleaciones HCP mediante difracción de rayos X. Resultados preliminares en chapas de Zn y Zr

LEONARD, MARTIN E.; SOBRERO, CÉSAR; DE VINCENTIS, NATALIA; BOLMARO, RAÚL; SIGNORELLI, JAVIER W.

Rosario

Jornada; XVI Jornadas de Ciencias, Tecnologías e Innovación UNR; 2022

Universidad Nacional de Rosario

La difracción de rayos X es una herramienta fundamental para el estudio de materiales policristalinos, incluyendo aleaciones metálicas. En particular, las técnicas basadas en el análisis de los perfiles de línea de difracción (LPA) permiten evaluar aspectos microestructurales tales como el tamaño de grano y subgrano, la microdeformación intra-granular debida a distorsiones de la red cristalina por dislocaciones, la presencia de fallas de apilamiento, etc. Los picos de difracción carac-terísticos de cada material son ensanchados por el efecto de estas imperfecciones, y el ensanchamiento puede ser correlacionado con el carácter y la magnitud de los defectos mediante la aplicación de algún modelo físico apropiado. Las aleaciones de estructura cristalina hexagonal compacta (HCP) presentan aplicaciones tecnológicas importantes, entre las cuales podemos mencionar las chapas de zinc (Zn), caracterizadas por su gran maleabilidad y resistencia a la corrosión; y las aleaciones de zirconio (Zr), estratégicas por su aplicación en componentes internos de reactores nucleares. El estudio del comportamiento mecánico de estas aleaciones, en relación a la evolución de su microestructura, resulta complejo debido al carácter anisótropo de la red HCP, la presencia de tensiones intergranulares y el desarrollo de una fuerte textura cristalográfica. En este trabajo se evalúa la posibilidad de aplicar algunos de los métodos clásicos basados en LPA para caracterizar la microestructura de una chapa comercial de la aleación Zn-Cu-Ti y de chapas de una aleación de Zr mediante el equipamiento de rayos X disponible en el Instituto de Física Rosario (IFIR-CONICET/UNR).