Propiedades eléctricas y morfológicas de nanohilos de ZnO estudiadas por C-AFM

TOSI EZEQUIEL; H´YVL, M.; FEJFAR, A.; TIRADO, MONICA; COMEDI, DAVID

Buenos Aires

Encuentro; XVI Encuentro de Superficies y Materiales Nanoestructurados: NANO 2016; 2016

Facultad de Ciencias Exactas y Naturales, UBA

Las nanoestructuras de ZnO son prometedores candidatos para el desarrollo de nuevos dispositivos optoelectrónicos debido a sus propiedades eléctricas y ópticas únicas. En este trabajo presentamos una caracterización eléctrica complementaria de nanohilos (Nhs) individuales de ZnO en posición vertical respecto del sustrato de crecimiento, y transferidos sobre el sustrato (recostados en el plano del sustrato), utilizando microscopía de fuerza atómica conductora (C-AFM por Conductive Atomic Force Microscopy)1. Inicialmente, las propiedades eléctricas de los arreglos de Nhs de ZnO se caracterizaron a partir de mapas de corriente bidimensionales. Los mapas de corriente se registraron de manera simultánea con la topografía, adquirida con el AFM en modo contacto. Además, se utilizó C-AFM para determinar las propiedades corriente-voltaje (I-V) locales tanto en los Nhs verticales como en los transferidos. La caracterización I-V reveló propiedades similares a las de un diodo Schottky. Se presenta una discusión detallada de las propiedades eléctricas de las nanoestructuras a partir de las curvas I-V locales y los mapas de corriente 2D tomados sobre áreas específicas de las muestras.REFERENCIAS1.Beinik, I. & et.al. ?Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic forcé microscopy? J. Appl. Phys. 110, 052005, 2011.