INVESTIGADORES
LARRALDE Ana Laura
capítulos de libros
Título:
Estudios mediante XRD y espectroscopía RAMAN de recubrimientos TiC, TiCN y TiN crecidos por PVD
Autor/es:
JUAN P. QUINTANA; ANA L. LARRALDE; DIEGO LAMAS; EMILIA HALAC; ADRIANA MARQUEZ
Libro:
Libro de Resúmenes CaracterizAR 2020
Editorial:
Instituto de Química y Metabolismo del Fármaco (Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas - Universidad de Buenos Aires).
Referencias:
Año: 2020; p. 164 - 164
Resumen:
Los recubrimientos TiCxN1-x son de gran interés debido a su alta dureza, estabilidad química y alta temperatura de fusión. Debido a su elevada resistencia a la abrasión y al desgaste estos recubrimientos resultan adecuados para aplicaciones tribológicas. La nitruración iónica sobre aceros permite generar un gradiente de dureza en superficie, el cual resulta necesario para la deposición de recubrimientos duros. Entre los métodos de deposición física en fase vapor (PVD), se encuentran las descargas de tipo arco catódico las cuales resultan muy atractivas en la producción de recubrimientos superficiales debido a la alta tasa de crecimiento y a las propiedades de los films depositados.En este trabajo se presenta el estudio estructural de recubrimientos bicapa Ti/TiCxN1-x sobre acero AISI 4140 nitrurado iónicamente. Los recubrimientos fueron crecidos con un arco con el sustrato mantenido a una temperatura de 300oC, utilizando un blanco de Titanio y N2 y C2H2 como gases reactivos. Las fases cristalinas presentes en los recubrimientos fueron identificadas mediante XRD. Como complemento para el análisis de la estructura y composición de los films se empleó espectroscopia RAMAN. En la Figura 1 se presenta el patrón de difracción medido para los distintos recubrimientos junto con los picos de referencia de los compuestos identificados. Puede observarse los picos asociados al Fe y la austenita expandida del sustrato generada en la nitruración y el pico principal de Ti. Además, se observan todos los picos correspondientes a la red cristalina del material que se quiso crecer para cada caso.Mediante espectroscopia RAMAN se observaron, además de los espectros característicos asociados a las mismas fases cristalinas identificadas por XRD, picos anchos asociados a los modos D y G correspondientes al carbón amorfo en los recubrimientos Ti/TiCN y Ti/TiC.