El Uso de Software Libre para el Análisis de Superficies

W. TUCKART

Bahía Blanca, Argentina

Conferencia; IV Reunión de la Asociación Argentina de Cristalografía; 2008

Cuando dos cuerpos sólidos con movimiento relativo interactúan se promueve la modificación de las propiedades de las superficies en contacto. Estas pueden resultar significativamente distintas a las del sustrato. Por otro lado, algunas veces esas modificaciones son generadas mediante procesos que confieren propiedades particulares a la superficie en función del tipo de servicio. En ambas situaciones es vital determinar las características de la región superficial y/o subsuperficial. En esta disertación se presentó la aplicación de dos programas con licencia de uso libre en la caracterización efectuada sobre las fases presentes en las capas obtenidas por nitruración iónica de dos muestras, con distinta microestructura inicial, de acero inoxidable martensítico AISI 420.    En este ejemplo se utilizó el programa PowderCell, que permite el análisis de patrones de difracción de rayos X (DRX) y el software Electron Microscopy Image Simulation, para el estudio de patrones de difracción de área selecta obtenidos con microscopía electrónica de transmisión (TEM). Mediante estas herramientas se midieron diferencias entre parámetros de celda unidad de la matriz martensita nitrogenada de ambas muestras.    A partir del análisis presentados es posible concluir que la utilización de ambos programas constituyen herramientas útiles y de bajo costo para la caracterización de fases sólidas.