Avances en el desarrollo de una metodología no invasiva de relevamiento de pinturas rupestres ocultas

TASCÓN, MARCOS; CASTELLÁ, FLORENCIA; LANDINO, MATÍAS; AHETS ETCHEBERRY, EUGENIA; GHECO, LUCAS; MARTE, FERNANDO

Corrientes

Congreso; XI Congreso Argentino de Química Analítica; 2021

Universidad Nacional del Nordeste

Al estudiar el arte rupestre, sólo documentamos una parte de la totalidad de los posibles motivos presentes en las paredes de los sitios. Con el tiempo algunos pueden haber sido erosionados y otros totalmente cubiertos por distintos compuestos de origen natural, como oxalatos, carbonatos y sulfatos de calcio. También pueden haber sido solapados por actividades antrópicas subsiguientes, como depósitos de hollín o simplemente otros motivos rupestres. El desafío en relación con estos motivos ?ocultos? es poder revelarlos mediante métodos novedosos sin afectar las capas superpuestas, es decir, de manera no-invasiva. El objetivo de este trabajo es presentar los avances en el desarrollo local de un escáner de fluorescencia de rayos X portátil para documentar in situ los motivos subyacentes encontrados en sitios arqueológicos. Esta técnica vuelve posible delimitar las formas de las figuras ocultas, a partir de la penetración característica de los rayos X incidentes, así como la de la radiación generada por la fluorescencia de los elementos constitutivos. Como caso de estudio, nos concentramos en las cuevas de Oyola (Catamarca, Argentina), donde han sido detectados motivos rupestres subyacentes a través de análisis micro-estratigráficos previos.1,2 Además, en la zona se ha caracterizado la mayoría de las pinturas,1,2 lo que ha permitido realizar modelos de pinturas rupestres que emulen la composición de las originales. Esto es, inicialmente, la utilización de rojos a base de hematita (Fe2O3), blancos a base de carbonato de calcio y sulfato de calcio, y negros a base de carbón y óxido de manganeso. Luego, se tuvieron en cuenta distintas superposiciones, en las que se consideró la combinatoria de todas las posibilidades de superposición de eventos de pintado entre los materiales posibles de esta zona. Este aspecto resultó de importancia al considerar la mayor o menor penetración de los rayos x en los distintos materiales y la posibilidad de detección de la fluorescencia generada, según el orden de superposición y sus correspondientes pesos atómicos. En una etapa inicial, se opto por la utilización de un soporte que no generara interferencias en las lecturas, como puede ser un tablero de madera aglomerada. Los estudios arrojaron resultados prometedores, pudiendo elucidar los motivos subyacentes mediante la realización de mapeos al filtrar rangos específicos de energía correspondientes a los distintos elementos. En este sentido, todas las combinaciones conteniendo metales de alto peso atómico en los pigmentos subyacentes, cubiertos con pinturas compuestas principalmente por elementos livianos, arrojaron buenos resultados. Por otra parte, capas depinturas de elementos de peso atómicos pesados cubiertos por pinturas compuestas por pigmentos con elementos de altos pesos atómicos arrojaron resultados intermedios, donde el espesor relativo de las películas juega un rol importante en la factibilidad del análisis. Por último, los motivos realizados con pinturas compuestas por elementos livianos cubiertos por pinturas compuestas por elementos de alto peso atómico no pudieron ser visualizadas, señalándose comouna de las limitaciones del método. Para ello, otras técnicas no invasivas como reflectografía infrarroja podría resultar como una opción complementaria.