PERSONAL DE APOYO
SALIBE Martin
informe técnico
Título:
NIRST-Scanner ADQ&CTRL (FPGA) Guía de Ensamblado y Test (FM) SD-475-5306-A
Autor/es:
MARTIN SALIBE; MARTIN BENITEZ
Fecha inicio/fin:
2007-01-01/2007-02-05
Páginas:
1-19
Naturaleza de la
Producción Tecnológica:
Electrónica
Campo de Aplicación:
Espacio-Otros
Descripción:
Definir un plan de poblado y test para la placa de adquisición y control (FPGA) del instrumento
NIRST, los test que se plantean aquí tiene por objeto comprobar el correcto funcionamiento del hardware,
los test de aceptación y calificación no se incluyen en este documento.
