PERSONAL DE APOYO
SALIBE Martin
informe técnico
Título:
NIRST-Scanner Adquisición y Control (FPGA) Plan de Integración y Test (DM). SD-475-5213
Autor/es:
MARTIN SALIBE; MARTIN BENITEZ
Fecha inicio/fin:
2008-06-30/2008-07-05
Páginas:
1-17
Naturaleza de la
Producción Tecnológica:
Electrónica
Campo de Aplicación:
Espacio-Otros
Descripción:
El presente documento presenta el plan de Integración y Test correspondiente al modelo de desarrollo (DM) de la cámara NIRST.
