REFLECTANCIA INTERFACIAL DE NANOTUBOS DE TiO2

L. GERBINO; A. BARUZZI; R. A. IGLESIAS

Córdoba

Congreso; XVII Congreso Argentino de Fisicoquímica y Química Inorgánica; 2011

Los arreglos altamente ordenados de nanotubos de dióxido de titanio (NT-TiO2) sintetizados por anodización constituyen materiales con arquitecturas que ofrecen una gran superficie interna sin disminución del orden estructural y geométrico. La naturaleza altamente orientada de estos arreglos los convierte en excelentes vías vectoriales de transferencia de carga en interfaces. Se ha demostrado que arreglos de NT-TiO2 poseen un transporte de carga excepcional y propiedades de tiempo de vida que permiten emplearlos en una variedad de aplicaciones avanzadas, como su utilización en sensores [1], en celdas solares sensibilizadas con colorantes [2], en la generación de hidrógeno por fotoelectrólisis de agua [3], en la reducción fotocatalítica de CO2 [4] y en supercapacitores. Además los arreglos de NT-TiO2 demostraron gran utilidad en aplicaciones biomédicas como biosensores, filtración molecular, liberación de fármacos e ingeniería de tejidos [5]. Muchas de las propiedades de estos sistemas nanoestructurados necesarias para su aplicación en los campos mencionados dependen exclusivamente de la forma, de la distribución y fundamentalmente de la longitud de los NT-TiO2 que los componen. La técnica más ampliamente utilizada para la caracterización de estos parámetros es la microscopía electrónica de barrido (SEM). Esta metodología permite obtener imágenes a nivel nanométrico de la morfología de los arreglos, pero no puede ser utilizada para hacer determinaciones in-situ durante crecimiento de los NT-TiO2; además normalmente es necesario destruir las muestras para evaluar las longitudes de los arreglos. En base a lo mencionado el principal objetivo del presente trabajo involucra la determinación directa de la longitud de NT-TiO2 utilizando medidas de reflectancia en el rango UV-Vis. Mediante el análisis de los patrones de interferencia obtenidos y su correlación con un modelo sencillo de reflectancia a través de una película dieléctrica se pueden estimar los espesores de la capa de NT-TiO2.