INVESTIGADORES
FARIAS Eliana Desiree
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Capacitación y/o asesoramiento en Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Autor/es:
FARIAS, ELIANA D; BRUNETTI, VERÓNICA
Fecha inicio:
2018-11-01
Fecha finalización:
2018-12-01
Campo de Aplicación:
Varios campos
Descripción:
Se brinda capacitación y asesoramiento en la técnica de microscopia de barrido con sonda, los diferentes modos de operación junto con la información factible de obtener en cada caso. La capacitación en AFM puede ser utilizada además para evacuar dudas sobre el funcionamiento de equipos de Microscopía de Fuerza Atómica. Se discute sobre los alcances de la técnica en el sistema de interés, sobre las condiciones de operación del microscopio y/o asesoramiento en el procesamiento de los resultados.
