Caracterización de la materia orgánica presente en rocas generadoras por técnica de XPS

DONADELLI JORGE ANDRÉS; CÁNNEVA, ANTONELA; ERRA, GEORGINA; CALVO, ALEJANDRA

Berisso

Workshop; 1° Workshop de GQ y SP; 2019

YPF-Tecnología

El objetivo de este trabajo es presentar a la comunidad la potencialidad de una nueva herramienta para la caracterización de la materia orgánica contenida en rocas madre. Para abordar los desafíos presentes en el entendimiento de la roca madre y todo el sistema petrolero en su conjunto, es necesario desarrollar nuevos métodos de análisis. La espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) es una técnica muy utilizada en la caracterización superficial de materiales que permite determinar los elementos químicos presentes en una muestra, y su entorno químico. Es conocido que existe una correlación entre el contenido de especies oxidadas de carbono en el kerógeno y la materia orgánica que le dio origen, así como también entre el grado de aromaticidad y su madurez[1]. De esta manera, la caracterización de la materia orgánica presente en rocas por XPS puede dar información complementaria a las técnicas tradicionalmente empleadas (determinación de la reflectancia de la vitrinita, pirólisis), sobre todo en aquellos casos en los cuales se dificulta su caracterización.