INVESTIGADORES
FABIETTI Luis Maria Rodolfo
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Análisis estructural por difracción de rayos x
Autor/es:
P. BERCOFF; G. POZO LÓPEZ; L. M FABIETTI; S. E. URRETA
Fecha inicio:
2009-12-17
Fecha finalización:
2009-12-28
Naturaleza de la
Producción Tecnológica:
Fundición
Campo de Aplicación:
Industrial
Descripción:
Se caracterizaron muestras provistas por el Centro de Investigaciones en Materiales CIMM dependiente del INTI, por medio de difracción de rayos x.
