INVESTIGADORES
SILVA Luis Ignacio
congresos y reuniones científicas
Título:
Estrategia de detección y localización de fallas en las llaves de un accionamiento eléctrico con un único sensor de corriente de fase
Autor/es:
LUIS E. VENGHI; FACUNDO AGUILERA; PABLO M. DE LA BARRERA; LUIS I. SILVA; CRISTIAN H. DE ANGELO
Lugar:
Rafaela
Reunión:
Jornada; 1ª Jornada de Aportes científico-académicos de la Universidad Nacional de Rafaela; 2022
Institución organizadora:
Universidad Nacional de Rafaela
Resumen:
Los accionamientos eléctricos (AE) de velocidad variable se utilizan ampliamente en aplicaciones críticas que requieren altos niveles de desempeño y confiabilidad como el transporte. En estas aplicaciones a partir de valores de referencia y señales de retroalimentación obtenidas de sensores de velocidad y corriente, un sistema de control genera una secuencia de conmutación de las llaves de un inversor para regular la velocidad y par requeridos por la aplicación. Un AE debe presentar un diseño conservador para reducir la posibilidad de que ocurran fallas y evitar situaciones de riesgo para las personas o daños materiales. Particularmente para tracción, los AE se encuentran expuestos a fuertes transitorios de aceleración y de frenado. Esto produce el incremento eventual de las corrientes y, por lo tanto, estrés térmico que impacta sobre la vida útil de las llaves del inversor. Consecuentemente, hay una degradación de las llaves de potencia que puede resultar en fallas de cortocircuito o fallas de circuito abierto. Las fallas de cortocircuito producen corrientes elevadas en un corto período de tiempo. Para este tipo de fallas se utilizan elementos de protección comerciales, que permiten realizar la apertura del circuito y evitar daños en otros componentes. Por otro lado, las fallas de circuito abierto producen la distorsión de las corrientes del estator y un componente de corriente continua en la fase fallada y en las fases sanas. Debido a esto, se producen pulsaciones de par a la frecuencia de las corrientes del estator, que reducen el valor medio máximo del par desarrollado. Además, las componentes de continua generan una tensión desigual en los transistores superior e inferior y pueden causar fallas secundarias en el inversor, por esto en períodos prolongados pueden llevar al apagado total del AE. Por lo tanto, para poder aplicar alguna acción correctiva ante la ocurrencia de fallas de circuito abierto, es indispensable contar con una estrategia de detección y localización de fallas (DLF) que permita identificar su origen en el inversor