INVESTIGADORES
CARRERAS Alejo Cristian
congresos y reuniones científicas
Título:
Caracterización química de monacitas de la Sierra de Comechingones mediante microanálisis con sonda de electrones. Influencia de los parámetros experimentales.
Autor/es:
E. S. SÁNCHEZ; A. C. CARRERAS; R. D. MARTINO; J. A. RIVEROS
Lugar:
Arica (Chile)
Reunión:
Congreso; X Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X; 2006
Institución organizadora:
SARX 2006
Resumen:
La técnica de microanálisis con sonda de electrones (EPMA) es una poderosa herramienta para la caracterización de minerales y el análisis de elementos trazas, en particular, resulta de gran utilidad para la cuantificación de monacitas en estudios de geocronología, lo que requiere consideraciones especiales en:
a) Las condiciones experimentales (energía del haz de electrones incidentes, metalizado para evitar efectos de calentamiento y carga con altas densidades de corriente, tiempos de conteo, cambio en el espaciado de los cristales difractores, colimación, detector de gas usado).
b) El procesamiento de los espectros obtenidos (valoración del fondo e interferencias).
En este trabajo se estudia el problema de la cuantificación de monacitas y se caracterizan muestras de las Sierras de Comechingones, utilizando por un lado, un espectrómetro EDS, con detector de Si(Li) y ventana de polipropileno ultradelgada, y un haz incidente de electrones de 14 keV y 380 pA para la caracterización global de las muestras; y por otro lado, un espectrómetro WDS, con cristales TAP y PET y detector sellado de Xe, y un haz de 14 keV y 70 nA, para la determinación de Th, U y Pb. Se propone un protocolo de análisis sistemático de este tipo de muestras, para ser aplicado en microscopios electrónicos de barrido, teniendo en cuenta las características especiales de cada espectrómetro utilizado.
Se observa que la precisión en la cuantificación de Th, U y Pb a través de las líneas utilizadas es similar a la que se obtiene con potenciales mayores (por ejemplo 25 keV) ya que la disminución en la intensidad de rayos x emitidos por la muestra es compensada por una mejora en la precisión de la corrección ZAF, debido a la disminución del volumen de interacción.
