Refinamiento de probabilidades de transición hacia la capa K con microsonda de electrones

GUSTAVO CASTELLANO; RITA BONETTO; JORGE TRINCAVELLI; MARCOS VASCONCELLOS; CRISTIANI CAMPOS

São Pedro, Brasil

Congreso; VII Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X; 2000

Comité Organizador SARX 2000

Se aplicó un método para el refinamiento de parámetros atómicos y experimentales para obtenerrazones de intensidades Ka/(Kb+Ka) mediante microsonda de electrones. Esta metodología,ampliamente utilizada en difracción de rayos x, se manifiesta como una herramienta poderosatambién en EPMA. El método consiste en minimizar las diferencias entre un espectro experimental de rayos x y una función propuesta para tener en cuenta el bremsstrahlung y los picos característicos emitidos en la muestra analizada, así como características de la detección. En este trabajo, el método se utiliza para determinar probabilidades relativas de transición a vacancias en la capa K. Se aplica esta rutina a 14 elementos de número atómico entre 20 y 42. Los resultados obtenidos muestran un buen acuerdo con datos teóricos y experimentales para razones Ka/(Kb+Ka). Por otro lado, se comparan intensidades relativas para las líneas Ka1, Ka2, Kb1 y Kb2 con datos experimentales, mostrando un comportamiento similar.