ANÁLISIS SEMI-CUANTITATIVO SIN ESTÁNDARES MEDIANTE PIXE

TABATHA RODRÍGUEZ; PABLO PÉREZ; JORGE TRINCAVELLI

Villa Carlos Paz

Congreso; XIV Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X (SARX 2014); 2014

El programa PAMPA (Parameter Assesment Method for PIXE Analysis) está siendo implementado con el propósito de realizar análisis semi-cuantitativos sin estándares en muestras delgadas y gruesas mediante PIXE. Este programa está basado en un método de refinamiento de parámetros atómicos y experimentales para el ajuste de un espectro de rayos x inducido por protones. El método consiste en minimizar la función que representa las diferencias cuadráticas entre un espectro de rayos x experimental y una función propuesta, que tiene en cuenta los picos característicos de la muestra correspondiente y la radiación de fondo. Además de disponer de bases de datos para las líneas K, recientemente se ha agregado en el programa la posibilidad de analizar líneas L incorporando las secciones eficaces de ionización correspondientes. Por otra parte, se implementó un entorno gráfico que permite seleccionar y modificar parámetros de la muestra analizada, las líneas observadas, la configuración experimental y los parámetros a refinar, de manera versátil y simple para el usuario. Mediante este programa se analizaron espectros de patrones delgados depositados sobre mylar: MgF2, SiO, KCl, Fe, Cu y CdSe, irradiados con protones de energías entre 700-1600 keV. Puede observarse que las concentraciones determinadas concuerdan razonablemente con los valores nominales, obteniéndose buenos ajustes de los espectros. Es notable cómo el modelo de fondo utilizado, a pesar de su sencillez funciona adecuadamente. Estos resultados alientan a encarar la situación más compleja de muestras gruesas, que será incorporada próximamente en el programa.