INVESTIGADORES
TRINCAVELLI Jorge Carlos
congresos y reuniones científicas
Título:
Refinamiento de fracciones de línea L para Yb, Hf y Ta usando radiación de sincrotrón
Autor/es:
ALEJO CARRERAS; JORGE TRINCAVELLI; RITA BONETTO; GUSTAVO CASTELLANO
Lugar:
Nova Friburgo, Brasil
Reunión:
Congreso; VIII Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X (SARX 2002); 2002
Institución organizadora:
Comité organizador SARX 2002
Resumen:
<!--
/* Style Definitions */
p.MsoNormal, li.MsoNormal, div.MsoNormal
{mso-style-parent:"";
margin:0cm;
margin-bottom:.0001pt;
text-align:justify;
mso-pagination:widow-orphan;
font-size:12.0pt;
mso-bidi-font-size:10.0pt;
font-family:"Times New Roman";
mso-fareast-font-family:"Times New Roman";
mso-ansi-language:PT-BR;
mso-fareast-language:PT-BR;}
@page Section1
{size:612.0pt 792.0pt;
margin:70.85pt 3.0cm 70.85pt 3.0cm;
mso-header-margin:36.0pt;
mso-footer-margin:36.0pt;
mso-paper-source:0;}
div.Section1
{page:Section1;}
-->
Las intensidades relativas de líneas características de
rayos x representan parámetros esenciales en diversas técnicas de análisis sin
estándares, ya que en estas técnicas absolutas no se cancelan parámetros
atómicos mediante cociente de intensidades, por lo cual, se requiere del
conocimiento preciso de estos parámetros para una adecuada caracterización de
muestras. En el campo de la física atómica, las intensidades relativas de
líneas características están asociadas con las probabilidades de transición
desde los diferentes estados ocupados del átomo y podrían utilizarse en la
evaluación de modelos teóricos de estructura atómica.
En la literatura se encuentran diversas
publicaciones destinadas a cálculos teóricos, tabulaciones y
determinaciones experimentales de fracciones de línea L, pero todavía
existen discrepancias debido a incertezas experimentales y a aproximaciones
realizadas en los cálculos teóricos. En este trabajo, se presentan intensidades
relativas de líneas L, para Yb, Hf y Ta, determinadas por FRX con radiación de
sincrotrón. La deconvolución espectral es el principal problema que surge en la
determinación de estos parámetros, debido al fuerte solapamiento de picos que
aparece en espectros EDS de líneas L. Una buena estadística no es suficiente
para este propósito y se requiere una cuidadosa metodología de ajuste para
obtener valores precisos de las áreas de los picos. Programas convencionales de
ajuste, tales como el AXIL, no resultaron eficientes en este estudio, pero el
método de optimización de parámetros desarrollado previamente para EPMA y
espectros K de FRX resulta una herramienta adecuada para el ajuste de
espectros L de FRX.
