Optimización de parámetros en fluorescencia de rayos x

ALEJO CARRERAS; RITA BONETTO; GUILLERMO STUTZ; JORGE TRINCAVELLI; GUSTAVO CASTELLANO

São Pedro, Brasil

Congreso; VII Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X; 2000

Comité Organizador SARX 2000

Se implementó un método para el refinamiento de diferentes parámetros atómicos yexperimentales en Fluorescencia de Rayos X. El mismo consiste en minimizar las diferenciasentre un espectro experimental y una función propuesta que describe los picos característicos yla radiación del continuo de la correspondiente muestra, así como distintos efectos dedetección. El algoritmo parte de ciertos valores iniciales para los diferentes parámetrosinvolucrados, y los refina mediante un proceso numérico iterativo. Además de los aspectosgenerales del método se muestra una aplicación para espectros de muestras metálicas,generados con un haz monocromático de radiación de sincrotrón. En este caso, se utiliza elalgoritmo de optimización en la determinación de las probabilidades relativas de transición parala capa K.