Presentación del Laboratorio de Cristalografía Aplicada ECyT-UNSAM

CRISTIÁN HUCK IRIART; PATRICIA C. RIVAS ROJAS; DIEGO GERMÁN LAMAS

Buenos Aires

Congreso; 2do Congreso Argentino de técnicas Neutrónicas; 2019

A pesar de las diferencias intrínsecas en la naturaleza física que rodea la emisión de radiación electromagnética y de neutrones, las técnicas de caracterización de materiales asociadas a los fenómenos de difracción, dispersión y reflexión comparten muchas similitudes cuando se emplean fuentes de emisión de Rayos X o reactores nucleares. En la Escuela de Ciencia y Tecnología (ECyT) de la Universidad Nacional de San Martín (UNSAM) se ha inaugurado el Laboratorio de Cristalografía Aplicada donde se han instalado dos modernos instrumentos de Difracción de Rayos X de polvos (P-XRD) Empyrean -Malvern Panalytical- y de  Dispersión de Rayos X a Bajos Ángulos (SAXS) XEUSS 2.0 -XENOCS-. El último, es un equipo modular con dos detectores bidimensionales sincronizados que permite realizar mediciones simultaneas de bajoy mediano ángulo (SAXS/WAXS). Además, el equipo cuenta con portamuestras motorizadospara realizar experimentos en diversos sistemas líquidos y sólidos tanto en modo transmisión como por incidencia rasante (GISAXS y reflectometría). SAXS y la Dispersión de Neutrones a Bajos Ángulos (SANS) poseen muchos puntos en común en el tratamiento y análisis de datos, razón por la cual, el acceso a la técnica permitirá entrenar y fortalecer a la comunidadespecializada ante la inminente instalación de la facilidad de SANS en el reactor RA10. En este trabajo se detallarán las capacidades experimentales y se mostrarán los primeros ejemplosobtenidos en el laboratorio. Los equipos instalados en el Laboratorio de Cristalografía Aplicada se encuentran abiertos a la comunidad científica.