INVESTIGADORES
HUCK IRIART Cristian
congresos y reuniones científicas
Título:
?Full Pixel Analysis?: Nueva metodología de optimización de experimentos GISAXS
Autor/es:
CRISTIÁN HUCK IRIART; LISANDRO GIOVANETTI; DANIEL COSTA; GUINTHER KELLERMANN; ALDO FELIX CRAIEVICH; FELIX G. REQUEJO
Lugar:
La Plata
Reunión:
Congreso; XI Reunión Anual de la AACr; 2015
Institución organizadora:
AACr
Resumen:
El empleo de fuentes de radiación X de alto brillo (sincrotrón) permite el estudio in-situ de diversos procesos fisicoquímicos; En consecuencia, se generan grandes cantidades de datos. El análisis individual de los resultados es ineficiente, y por consiguiente, surge la necesidad de emplear metodologías automatizadas. Es por ello que las rutinas computacionales en lenguajes de programación modernos como Python cobran popularidad [1]. En el presente trabajo describiremos un método numérico de optimización de imágenes bidimensionales de experimentos de dispersión de rayos X a bajos ángulos en incidencia rasante (GISAXS). En el mismo se minimizan las diferencias entre la imagen modelada con la obtenida experimentalmente en su totalidad. Esta metodología suplanta el análisis convencional de experimentos GISAXS los cuales ajustan la intensidad registrada sobre cortes arbitrarios horizontales y/o verticales de las imagenes [2]. Se exhibirá como ejemplo la cinética de formación endotaxial de nanohexágonos de CoSi2 en Si(001) en condiciones isotérmicas. Síntesis desarrollada previamente en el grupo [3].[1] Perkel, J.M. Nature, 518, 125-126 (2015) [2] Lazzari, R, J. Appl. Cryst, 35, 406-421 (2002) [3] Kellermann,G , Appl. Phys. Lett. 100, 063116 (2012)
