INVESTIGADORES
SIGNORELLI Javier Walter
artículos
Título:
Measurement of in-grain orientation gradients by EBSD and comparison to finite element results
Autor/es:
L. DELANNAY, R. LOGÉ, Y. CHASTEL, J.W. SIGNORELLI AND P. VAN HOUTTE
Revista:
Advanced Engineering Materials
Editorial:
Wiley
Referencias:
Año: 2003 p. 597 - 600
ISSN:
1527-2648
