PERSONAL DE APOYO
GENAZZINI Cecilia Ines
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
GIE-Análisis por difracción de rayos X
Autor/es:
GENAZZINI, CECILIA I.; GAUNA, MATÍAS
Fecha inicio:
2020-01-01
Fecha finalización:
2020-01-01
Campo de Aplicación:
Otros campos
Descripción:
Se realizaron análisis de DRX para caracterizar la composición mineralógica. Se utilizó un sistema de difractometría de rayos X marca Philips 3020 con lámpara de Cu (kα=1.5403 Å) que operó a 35 mA y 40 kV. Se escanearon ángulos 2theta de 3 a 70º. La composición mineral de cada muestra fue determinada mediante el programa X´Pert High Score mientras que la cuantificación se calculó con el software Siroquant que se basa en el método de Rietveld.
