PERSONAL DE APOYO
GENAZZINI Cecilia Ines
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Y-TEC-Análisis por difracción de rayos X
Autor/es:
GENAZZINI, CECILIA I.; MOROSI, MARTÍN; CRAVERO, FERNANDA
Fecha inicio:
2018-07-01
Fecha finalización:
2018-07-01
Campo de Aplicación:
Varios campos
Descripción:
Se realizaron análisis de DRX para caracterizar la composición mineralógica. Se utilizó un sistema de difractometría de rayos X marca Philips 3020 con lámpara de Cu (kα=1.5403 Å) que operó a 35 mA y 40 kV. Se escanearon ángulos 2theta de 3 a 70º. La composición mineral de cada muestra fue determinada mediante el programa X´Pert High Score mientras que la cuantificación se calculó con el software Siroquant que se basa en el método de Rietveld.
