PERSONAL DE APOYO
GENAZZINI Cecilia Ines
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
CTI- Análisis por difracción de rayos X
Autor/es:
GENAZZINI, CECILIA I.; MOROSI, MARTÍN
Fecha inicio:
2018-01-01
Fecha finalización:
2018-12-01
Campo de Aplicación:
Otros campos
Descripción:
Se realizaron análisis de DRX para caracterizar la composición mineralógica. Se utilizó un sistema de difractometría de rayos X marca Philips 3020 con lámpara de Cu (kα=1.5403 Å) que operó a 35 mA y 40 kV. Se escanearon ángulos 2theta de 3 a 70º.
