PERSONAL DE APOYO
GENAZZINI Cecilia Ines
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
INROTS Corporation SA-Análisis por difracción de rayos X
Autor/es:
GENAZZINI, CECILIA I.; MOROSI, MARTÍN; MAGGI, JORGE; CRAVERO, FERNANDA
Fecha inicio:
2017-05-01
Fecha finalización:
2017-05-01
Campo de Aplicación:
Vivienda-Materiales de construccion
Descripción:
Se realizaron análisis de DRX de la roca total para caracterizar la composición mineralógica del material. Las muestras fueron cuarteadas, desagregadas y pulverizadas en mortero. Se utilizó un sistema de difractometría de rayos X marca Philips 3020 con lámpara de Cu (kα=1.5403 Å) que operó a 35 mA y 40 kV. Se escanearon ángulos 2theta de 3 a 70º con una velocidad de escaneo de 0.04°/s. La composición mineral de cada muestra fue determinada mediante el programa X´Pert High Score mientras que la cuantificación se calculó con el software Siroquant que se basa en el método de Rietveld.
