PERSONAL DE APOYO
GENAZZINI Cecilia Ines
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
IFLP-Análisis por difracción de rayos X
Autor/es:
GENAZZINI, CECILIA I.; MOROSI, MARTÍN; MAGGI, JORGE; CRAVERO, FERNANDA
Fecha inicio:
2017-03-01
Fecha finalización:
2017-04-01
Campo de Aplicación:
Otros campos
Descripción:
Se realizaron análisis de DRX de membranas para caracterizar la composición mineralógica. Se utilizó un sistema de difractometría de rayos X marca Philips 3020 con lámpara de Cu (kα=1.5403 Å) que operó a 35 mA y 40 kV. Se escanearon ángulos 2theta de 3 a 70º. La composición mineral de cada muestra fue determinada mediante el programa X'Pert High Score mientras que la cuantificación se calculó con el software Siroquant que se basa en el método de Rietveld
