INVESTIGADORES
ZELIN Juan
convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Análisis por difracción de rayos-X de dos muestras denominadas Emulex 2 Plus
Autor/es:
JUAN ZELIN; ALBERTO J. MARCHI; CAMILO I. MEYER; HERNAN ANTONIO DUARTE
Fecha inicio:
2018-05-01
Fecha finalización:
2018-06-01
Campo de Aplicación:
Otros campos
Descripción:
Determinar las señales de difracción por difracción de rayos-X de dos muestras denominadas Emulex 2 Plus
