ILUMINACIÓN SELECTIVA DE NANOPARTÍCULAS DE OXIDO DE SILICIO EN TEM

LIDIA MARGARITA LOPEZ; LISANDRO RAUL ANTON; MARÍA LUCILA MORONO BRIZUELA; ROMINA MITAROTONDA

San Carlos de Bariloche

Congreso; 4to Congreso Argentino de Microscopía - SAMIC 2016; 2016

Asociación Argentina de Microscopía

La introducción de la Nanoteccnolgia en Medicina (Nanomedicina) ha permitido el desarrollo de numerosos tipos de nanoparticulas (NPs) con potenciales aplicaciones en el tratamiento de numerosas enfermedades, entre ellas el cáncer. Sin embargo, es necesario realizar modificaciones superficiales a los sistemas transportadores para disminuir su captación por el Sistema monocítico mononuclear, aumentando su semivida plasmática y pudiendo alcanzar los tejidos diana. Basándonos en las propiedades biocompatibles de los precursores de óxido de silicio y en la importancia creciente de las NPs como sistemas de liberación o transporte de moléculas, producimos NPs huecas para ser utilizadas como vehículos de moléculas inmunomoduladoras. Las NPs se forman a partir de un molde con compuestos orgánicos y se realiza un recubrimiento con óxido de silicio obteniéndose NPs huecas y porosas (Manuscrito en preparación). La observación de NPs en solución se ha convertido en una técnica de rutina en los laboratorios de Microscopia Electrónica de Transmisión. Dicha técnica requiere del uso de una membrana de soporte que resista el bombardeo del haz de electrones y los problemas originados por la deriva del foco por la carga eléctrica de la muestra [1]. El Microscopio Electrónico de Transmisión utilizado en el LANAIS es un equipo marca Zeiss modelo EM 109T de 80kV. El objetivo del trabajo es dar a conocer imágenes obtenidas a partir de una nueva forma de iluminación que denominamos selectiva, sobre la superficie de un material nanoestructurado basado en recubrimientos de oxido de silicio. Se denomina Iluminación selectiva a la que se logra concentrando el spot de electrones que iluminan a la muestra, esto se logra mediante la lente condensadora. Esta técnica la realizamos por primera vez en nuestro servicio y ha sido de mucha utilidad para confirmar la estructura de las NPs de oxido de silicio huecas, porosas y compactas estudiadas. El procedimiento realizado consistió en el control de la emisión de electrones tanto a baja como a mediana magnificación, mediante el cierre parcial del condensador