UE-INN 27105
UNIDAD EJECUTORA INSTITUTO DE NANOCIENCIA Y NANOTECNOLOGIA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Espectrometría de masas de iones secundarios detectados por tiempo de vuelo (TOF-SIMS) para el análisis químico-composicional multidimensional de materiales
Autor/es:
OSCAR GRIZZI; ADRIANA SERQUIS; LAURA BAQUÉ
Reunión:
Encuentro; Encuentro Anual INN 2020; 2020
Institución organizadora:
Instituto Nanociencia y Nanotecnología - CNEA-CONICET
Resumen:
La técnica de TOF-SIMS es una poderosa técnica deanálisis de alta resolución y sensibilidad que permite obtener informaciónquímico-composicional multidimensional de un amplio rango de muestras(metálicas, cerámicas, vítreas, poliméricas, geológicas, biológicas, etc.).Esencialmente consiste en bombardear la muestra con un haz de iones primariosgenerando, por un proceso de sputtering, un haz de iones secundarios cuyasmasas son luego separadas de acuerdo al tiempo de vuelo. El equipo de TOF-SIMS instaladorecientemente en la CNEA es el primero de su tipo en Sudamérica.Además, posee una configuración muy completa que incluye una fuente de ionesfocalizados (FIB) para seccionado transversal de muestras inhomogéneas y unafuente de clúster de Ar para sputtering de materiales orgánicos. En estetrabajo se dará una introducción general a la técnica de TOF-SIMS, sepresentarán las capacidades analíticas del equipo para el estudio demateriales, y se discutirán sus potencialidades y limitaciones para lacaracterización de nanomateriales.
