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Análisis de la estructura magnética en películas delgadas por medio de reflectometríade neutrones polarizadosD. Goijman1;2 , J. Gómez1;2, M. A. Paulin3;4, A. Butera1;2, F. Ott5, J. Milano1;21 Laboratorio de Resonancias Magnéticas, Gerencia de Física, Centro Atómico Bariloche,CNEA.2 Instituto de Nanociencia y Nanotecnología, CONICET-CNEA, Centro Atómico Bariloche.3 Laboratorio Argentino de Haces de Neutrones, CNEA.4 CONICET.5 Laboratoire Léon Brillouin CEA/CNRS-Centre dEtudes de Saclay-France.Las películas delgadas de materiales ferromagnéticos que poseen anisotropía magnética perpendicular al plano de la muestra exhiben una estructura de dominios magnéticos que se organiza en forma de tiras. La magnetización está modulada de forma periódica en el plano de la muestra además de existir variación con la profundidad.El cambio de magnetización en el interior de la película se puede estudiar de forma muy limitada con las técnicas magnetométricas convencionales de laboratorio. Sin embargo, la reflectometria de neutrones polarizados (PNR) es una herramienta poderosa para el estudio de las propiedades magnéticas de películas delgadas debido al acoplamiento magnético que se produce entre el neutron y los momentos magnéticos del material. Esta técnica permite obtener información sobre la estructura y la configuración magnética, ademas de la magnetización en la profundidad del material.En este trabajo se mostrará el estudio de películas delgadas de FeP t crecidas sobre sustratosde Si. Las muestras fueron fabricadas por medio de la técnica de sputtering DC con diferentes espesores nominales, caracterizadas por técnicas de rayos X (XRR) y técnicas magnetométricas (VSM, MOKE y MFM). Finalmente, se realizaron experimentos de PNR en los reflectómetros PRISM (LLB - París) y en SuperADAM (ILL - Grenoble) a partir de los cuales fue posible obtener perfiles magnéticos en función de la profundidad.