DETERMINACIÓN POR REFLECTOMETRÍA DE RAYOS X DEL ESPESOR DE RECUBRIMIENTOS DE TiO2 OBTENIDOS POR OXIDACIÓN ANÓDICA

VERA, M.L.; ARES, A.E.; MARIO ROBERTO ROSENBERGER; LAMAS, DIEGO; SCHVEZOV, C. E.

Anales AFA

Asociación Física Argentina

Lugar: Tandil; Año: 2009 vol. 21 p. 174 - 178

0327-358X

El proceso electroquímico de oxidación anódica permite obtener recubrimientos de TiO2 de mayor espesor y densidad que el que crece naturalmente sobre aleaciones de titanio, el cual frecuentemente no supera los 10nm de espesor y presenta numerosos poros y microfisuras. Por lo tanto, estos recubrimientos mejoran el desempeño de las aleaciones de titanio como biomaterial. En el presente trabajo se obtienen recubrimientos de TiO2 por oxidación anódica de la aleación Ti-6Al-4V a diferentes voltajes (10V a 70V), empleando una solución de ácido sulfúrico 1M como electrolito. Los espesores de las películas se determinan por reflectometría de rayos X,utilizando dos métodos de cálculo, uno a partir de la Ley de Snell y otro a partir de la Ley de Bragg modificada. La morfología de los óxidos se observa por microscopía óptica y electrónica de barrido y las fases presentes se analizan por difracción de rayos X con incidencia rasante de 1º. Se evalúa la relación entre el voltaje y el espesor de los recubrimientos. Se obtienen diferentes colores de recubrimientos según el voltaje aplicado de acuerdo al espesor de los óxidos. Los valores de espesores calculados son entre 25 y 125 nm. El espesor aumenta al aumentar el voltaje aplicado. Hasta 50V los recubrimientos son compactos, homogéneos y amorfos, a 60V comienzan a aparecer poros y a 70V el recubrimientos es poroso y cristalino en fase anatasa.