Análisis de Materiales Nanoestructurados por Difracción de Rayos X

S.P. SILVETTI; G. POZO LÓPEZ

Villa Giardino, Córdoba

Congreso; IX Seminario Latinoamericano de Análisis por Técnicas de Rayos X (SARX 2004); 2004

Facultad de Matemática, Astronomía y Física. Universidad Nacional de Córdoba

A fin de relacionar la microestructura de los polvos molidos con sus propiedades físicas, es necesario usar métodos que permitan obtener resultados confiables de tamaño y de deformación. El análisis del perfil de difracción de rayos X es una herramienta para caracterizar el comportamiento de estos polvos. Se comparan los resultados concernientes al tamaño de los dominios coherentemente difractantes y la deformación de red de polvos molidos y tratados térmicamente, de acuerdo a varios modelos: relación de Scherrer, método de ancho integrales, gráficos de Willamson-Hall, ajustes por funciones tipo Voight y métodos de Fourier como el de Warren-Averbach. Los polvos utilizados como materiales de partida para el HEBM son polvos comerciales de hierro puro y óxidos (SiO2, NiO, ZnO y Fe2O3). El HEBM se realizó en atmósfera de aire usando cazoletas y bolas de acero al Cr Ni. La evolución de la estructura se estudió por difracción de rayos X usando radiación Cu K. Los polvos molidos fueron tratados térmicamente en aire desde temperatura ambiente hasta a 1000 oC. El formalismo de Scherrer debe ser empleado solo en una primera aproximación cualitativa, resultados mas confiables se obtienen al utilizar el formalismo de Warren-Averbach.